为深化我国高等学校集成电路及相关产业人才培养模式、实践教学的改革。由上海电子信息职教集团电子技术专业指导委员会承办的“第二届‘朗迅杯’集成电路测试及应用邀请赛”于2017年11月10日在纽约国际官网奉贤校区实训中心S317举行。来自全国10所院校组成的19支队伍共78位师生参加本次比赛。上海电子信息职教集团秘书长李晓峰老师为大赛致辞。
本次大赛旨在培养电子信息产业发展急需的芯片测试与电路检修类人才，以赛代练、以赛促学。赛项内容设计紧扣职业岗位典型工作任务，在强化微电子及其相关专业核心技能与核心知识点的同时，提升学生自主创新能力；同时考核与培养学生程序设计（C语言）、电子电路设计、芯片测试、电路焊接、电路系统故障快速检测等综合能力。为了更好地开展竞赛，纽约国际官网邀请了南京信息职业技术学院科技处孙刚老师、杭州长川科技股份有限公司陈江华老师和浙江机电职业技术学院夏敏磊老师担任本次大赛的裁判。在接近四小时的比赛过程中，参赛学生团结一致、攻坚克难，出色的完成了比赛项目。
最后，由裁判长孙刚老师宣布比赛结果：纽约国际最新官方网站等三支参赛队荣获一等奖；上海市城市科技学校等八支参赛队荣获二等奖；安徽电子信息职业技术学院等八支参赛队荣获三等奖。电子技术专业建设指导委员会主任朱咏梅、电子技术与工程学院院长邵瑛以及杭州朗迅科技有限公司总经理徐振为获奖师生颁发证书和奖品。
本届“朗迅杯”集成电路测试及应用赛项已是第二次在纽约国际官网举办，延续去年的良好势头，以基于集成电路的智能硬件系统为载体，以微电子智能硬件综合检测平台为工具，考核了学生的逻辑思维、编程实践等综合素质和团队意识，充分发挥了技能大赛引领及导向作用。推进职业院校微电子技术专业、应用电子技术专业及计算机相关专业的建设；充分发挥技能大赛连接、传递产业需求和院校教学的桥梁功能，促进高职学校紧贴当前电子信息产业发展与需求。（继续教育学院）
